Michell和殼牌合作黑斑技術(shù)烴露點(diǎn)儀
殼牌率*開展了針對(duì)烴露點(diǎn)的研究工作,冷鏡技術(shù)的露點(diǎn)儀被確定為測量烴露點(diǎn)的佳技術(shù)。由于密析爾在冷鏡技術(shù)方面享有的盛譽(yù),殼牌邀請(qǐng)密析爾公司參與并共同發(fā)展出了專利的黑斑術(shù)。目前為止,黑斑技術(shù)仍然是烴露點(diǎn)測量領(lǐng)域精度高(+/-0.5C)、穩(wěn)定性好的技術(shù)。